8. September 2025 - JLU richtet vom 7. bis 9. September 2025 die Europäische Konferenz für Sekundärionen-Massenspektrometrie aus
Impulse für die Materialforschung und Nachwuchsförderung - Wie man Kometenstaub, Halbleiterchips und Hautzellen analysieren kann
Vom Smartphone bis zur Solarzelle: In vielen Bereichen unseres Alltags nutzen wir Geräte, die aus komplexen, seltenen oder hochreinen Materialien bestehen. Sowohl für die Prozesskontrolle in der Produktion als auch für die kontinuierliche Weiterentwicklung dieser Materialen, etwa durch Verwendung neuer Stoffverbindungen oder immer kleinerer Strukturgrößen, ist eine präzise und verlässliche Analysemethode unverzichtbar. In der Materialforschung kommt dafür häufig die Sekundärionen-Massenspektrometrie (kurz: SIMS) zum Einsatz. Alle zwei Jahre treffen sich die führenden Wissenschaftlerinnen und Wissenschaftler auf diesem Forschungsgebiet zur „SIMS Europe“, der „Europäischen Konferenz für Sekundärionen-Massenspektrometrie“. Es ist die zweitgrößte Veranstaltung dieser Art weltweit und seit ihrer Gründung im Jahr 1998 beständig gewachsen. In diesem Jahr wird die Konferenz vom 7. bis 9. September an der Justus-Liebig-Universität Gießen (JLU) ausgerichtet.
„Mit der SIMS-Methode kann die chemische Zusammensetzung unterschiedlichster Materialien mit hoher räumlicher Auflösung untersucht werden“, sagt Prof. Dr. Michael Dürr vom Institut für Angewandte Physik der JLU. „Die Spanne reicht von Kometenstaub über Halbleiterchips bis hin zu Knochengewebe oder Hautzellen“, ergänzt Prof. Dr. Marcus Rohnke vom Physikalisch-Chemischen Institut der JLU. Die Konferenz wird von Prof. Dürr und Prof. Rohnke gemeinsam mit Prof. Dr. Anja Henß vom I. Physikalischen Institut der JLU und Prof. Manuela Killian von der Universität Siegen ausgerichtet.
Dass die diesjährige SIMS-Europe-Konferenz in Gießen stattfindet, ist kein Zufall: In den vergangenen 15 Jahren haben sich die von den Ausrichtenden geleiteten Arbeitsgruppen aus der Materialforschung an der JLU einen festen Namen im Bereich der Materialanalytik mittels SIMS und verwandter Methoden erarbeitet. In Gießen erwarten die Veranstalter mehr als 200 Teilnehmende mit vielen internationalen Sprecherinnen und Sprechern, unter anderem aus Japan und den USA.Ein Schwerpunkt der Konferenz liegt auf der Förderung des wissenschaftlichen Nachwuchses. Zusätzlich zu den wissenschaftlichen Vorträgen und Posterbeiträgen wird am ersten Konferenztag ein Weiterbildungsprogramm zur SIMS-Technik angeboten. Die Ausrichtenden, die alle am Zentrum für Materialforschung (ZfM) der JLU aktiv sind, erhoffen sich von der SIMS Europe 2025 somit nicht nur regen wissenschaftlichen Austausch und neue Impulse für die Materialforschung. „Wir möchten mit der Konferenz zugleich die Materialforschung und den Forschungsstandort Gießen weiter stärken und ihn insbesondere für junge Forscherinnen und Forscher als festen Anlaufpunkt im Bereich der Sekundärionen-Massenspektrometrie frühzeitig sichtbar machen“, so Prof. Henß.
Weitere Informationen: www.sims-europe.org/
Campus-Schwerpunkt "Material, Molekül und Energie"
Prof. Dr. Michael Dürr ist beteiligter Forscher im Campus-Schwerpunkt "Material, Molekül und Energie". Die Entwicklung zukunftsträchtiger Technologien und Materialien ist das zentrale Ziel der gemeinsamen Forschungsaktivitäten der Forschenden im Campus-Schwerpunkt "Material, Molekül und Energie".
Kontakt
Justus-Liebig-Universität Gießen
Prof. Dr. Michael Dürr
Institut für Angewandte Physik
E-Mail: Michael.Duerr@ap.physik.uni-giessen.de